NI-VISN-100射频标签测试仪基于美国国家仪器（National Instruments）的PXI矢量射频模块和FPGA核心的中频模块，集成了聚星仪器自主研发的RFID 测试软件，具有内建的RFID协议栈，能够实时发射并采集RFID通讯的射频信号，进行完整的射频参数及协议参数的分析测试。该测试仪支持各种RFID国际标准，如ISO 14443、ISO 15693、ISO 18000-3、ISO 18000-6、EPC Class 1 Generation 2等，以及客户自定义标准。

NI-VISN-100射频标签测试仪结合了先进的模块化仪器和软件无线电技术，适用于RFID卡片和读卡机的研发调试以及生产过程的在线测试。

• 250 kHz到2.7 GHz频率范围
• 20 MHz实时带宽
• -130 dBm/Hz噪声密度
• 高稳定性OCXO时基
• 100 MS/s中频输入
• 200 MS/s中频输出
• 3百万门Xilinx Virtex-II Pro FPGA
• 微秒级定时控制

• 频率准确度、稳定性
• 功率、占用带宽、ACPR
• 频率、功率范围扫描
• 开关机、稳定时间
• 纹波、占空比、调制度
• Tari、Delimiter、Preamble
• 传输时序、应答时间
• 数据速率、编解码能力
• 防冲突测试、协议状态跳转

• ISO 14443 Type A&B
• ISO 15693
• ISO 18000-3 Mode 1&2
• ISO 18000-6 Type A&B&C
• EPC HF Class 1
• EPC Class 1 Generation 2
• 客户自定义标准
• 下一代RFID标准