RFID世界大会探讨可溯源的RFID标签性能测量

       阳春三月，一年一度的RFID世界大会在苏州隆重召开，聚星仪器受邀参加此次会议，聚星仪器总经理邵晖先生在会议上做了关于RFID计量准确性的演讲。聚星仪器专注于RFID标签和阅读器的测量已十年有余，先后参加了 EPCGlobal、NFCForum、Dash7 Alliance 等国际标准协会。近场无线测试系统获得NFC射频认证测试仪器资质；RFID测试仪获得ISO18000-7认证测试仪器资质。聚星还参与了空口协议、测试标准、800/900MHz、2.45GHz的国际和国内标准制定。聚星积极与国内合作伙伴制定专业规范、行业和地方标准。

       RFID标签性能对物联网应用至关重要，该测量用于在客户选择商品和商业仲裁时对产品质量进行分类。本次演讲中邵晖先生与大家讨论了可追溯性能和一致性测试，通过支持性数据给出实际测试，包括不同标签设计和测试天线的数据。这些实践表明了不同测试盒可追溯性的重要性。另外，邵晖先生还介绍了实现RFID标签可追溯性能测量的创新方法和设备，给出了测试设备配置的操作细节。

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